退出
我的积分:
中文文献批量获取
外文文献批量获取
机译:考虑单元相关性的32nm CMOS统计泄漏估计
Joshi, Smriti; Lombardot, Anne; Belleville, Marc; Beigne, Edith; Girard, Stephane;
机译:在电源电压变化下,用于32纳米CMOS泄漏变化的主要物理参数的统计估计
机译:基于单元泄漏电流顺序相加的统计泄漏估计
机译:65nm CMOS节点及更高芯片的全芯片泄漏功率的统计分析
机译:使用基流相关性进行低流量统计估计的进展。
机译:基于直接测量的检测器响应与不同官能团碳原子数之间的线性相关性的统计估计方法用于定量缺乏真实标准品/替代品的化合物
机译:考虑细胞相关性的32nm CmOs统计泄漏估计
机译:与标准CMOS单元兼容的低泄漏PMOS片上去耦电容器单元
机译:零件表面光学不规则性统计估计的自相关方法
机译:具有低电压摆幅的低泄漏CMOS单元
抱歉,该期刊暂不可订阅,敬请期待!
目前支持订阅全部北京大学中文核心(2020)期刊目录。